半导体集成电路静态读/写存储器是计算机和其他电子设备中常用的存储器类型之一。它们具有快速的读写速度、低功耗、体积小等优点，因此在现代电子设备中得到广泛应用。为了保证这些存储器的质量和可靠性，需要对其进行严格的规范和测试。GB/T 6648-1986就是为此而制定的。

该标准主要包括以下内容：

1.术语和定义：对于半导体集成电路静态读/写存储器中的一些术语和定义进行了详细的解释和说明，以便于标准的理解和应用。

2.规格要求：对于静态读/写存储器的各项规格要求进行了详细的规定，包括存储容量、数据宽度、存储单元的排列方式、引脚定义等。

3.性能要求：对于静态读/写存储器的各项性能要求进行了详细的规定，包括读写速度、功耗、工作温度范围、电气特性等。

4.测试方法：对于静态读/写存储器的测试方法进行了详细的规定，包括静态电参数测试、动态电参数测试、功能测试等。

5.标志、包装、运输：对于静态读/写存储器的标志、包装、运输等方面进行了详细的规定，以确保其在运输和使用过程中的安全和可靠性。

通过GB/T 6648-1986的规定，可以对半导体集成电路静态读/写存储器的质量和可靠性进行有效的保障和控制，从而提高电子设备的整体性能和可靠性。

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