半导体集成电路时基电路是指用于产生或处理时序信号的电路，是集成电路中的重要组成部分。时基电路的性能对整个集成电路的工作稳定性和可靠性有着重要的影响。因此，对时基电路进行测试是集成电路生产和应用中必不可少的环节。

本标准规定了半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理，主要包括以下内容：

1. 测试方法的原理：介绍了时基电路测试的基本原理，包括测试信号的产生、测试电路的选择和测试结果的处理等。

2. 测试设备的选择和使用：介绍了测试设备的种类和选择原则，包括测试仪器的选择、测试电路的搭建和测试条件的确定等。

3. 测试条件的确定：介绍了测试条件的确定方法，包括测试温度、测试电压、测试频率等。

4. 测试结果的处理和分析：介绍了测试结果的处理和分析方法，包括测试数据的记录、测试结果的分析和判定等。

本标准适用于半导体集成电路时基电路的测试，可用于集成电路生产和应用中的质量控制和故障分析等方面。

相关标准
GB/T 14031-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的测量误差限制
GB/T 14032-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的测试电路
GB/T 14033-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的测试信号
GB/T 14034-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的测试条件
GB/T 14035-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的测试结果的处理和分析