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GB/T 14119-1993是我国半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白件的详细规范，该标准规定了半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器（PROM）空白件的技术要求、检验方法、标志、包装、运输和贮存。

该标准适用于生产和供应半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白件的厂家和供应商，以及使用该产品的用户和检验机构。

该标准主要包括以下内容：

1.术语和定义：对于本标准中使用的术语和定义进行了详细的说明，以便于理解和使用。

2.产品分类：根据产品的功能和性能，将半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白件分为不同的类别。

3.技术要求：对于半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白件的外观、尺寸、电气性能、可靠性等方面进行了详细的规定。

4.检验方法：对于半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白件的检验方法进行了详细的说明，包括外观检验、尺寸检验、电气性能检验、可靠性检验等方面。

5.标志、包装、运输和贮存：对于半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白件的标志、包装、运输和贮存进行了详细的规定，以确保产品的质量和安全性。

该标准的实施可以有效地规范半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白件的生产和供应，提高产品的质量和可靠性，保障用户的利益和安全。

相关标准：
GB/T 14887-2015 半导体集成电路封装件标志、包装、运输和贮存
GB/T 14888-2015 半导体集成电路封装件外观检验方法
GB/T 14889-2015 半导体集成电路封装件尺寸检验方法
GB/T 14890-2015 半导体集成电路封装件电气性能检验方法
GB/T 14891-2015 半导体集成电路封装件可靠性检验方法