多探针测试台是一种用于测试电子元器件、半导体器件、集成电路等电子产品的测试设备。本标准适用于多探针测试台的设计、制造、检验和使用。

1. 分类
多探针测试台按照测试对象的不同，分为普通型和高速型两种。

2. 基本参数
多探针测试台的基本参数包括：测试点数、测试速度、测试精度、测试电压、测试电流、测试频率等。

3. 技术要求
多探针测试台应符合以下技术要求：
（1）测试点数应符合设计要求，测试速度应满足测试要求；
（2）测试精度应符合设计要求，测试电压、电流、频率应符合测试要求；
（3）多探针测试台应具有良好的稳定性和可靠性；
（4）多探针测试台应具有良好的抗干扰能力和防静电能力；
（5）多探针测试台应具有良好的安全性能。

4. 试验方法
多探针测试台的试验方法包括：外观检查、电气性能检查、机械性能检查、环境适应性检查等。

5. 检验规则
多探针测试台的检验规则包括：出厂检验、定期检验、使用前检验、使用中检验等。

6. 标志、包装、运输和贮存
多探针测试台应在外包装上标明产品名称、型号、生产厂家、生产日期、出厂编号等信息。多探针测试台的包装、运输和贮存应符合相关标准的要求。

相关标准
GB/T 15395-1994 多探针测试台试验方法
GB/T 15396-1994 多探针测试台检验规则
GB/T 15397-1994 多探针测试台标志、包装、运输和贮存
GB/T 15398-1994 多探针测试台安全要求
GB/T 15399-1994 多探针测试台环境适应性要求