一、范围
本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件的技术要求、试验方法、标志、包装、运输和贮存。

二、术语和定义
2.1 金属氧化物半导体气敏元件
指利用金属氧化物半导体材料的电学性质，对气体进行检测和测量的元件。

2.2 灵敏度
指元件对某种气体的检测能力。

2.3 响应时间
指元件从暴露在气体中到输出信号达到稳定的时间。

2.4 恢复时间
指元件从暴露在气体中到输出信号恢复到初始值的时间。

2.5 稳定性
指元件在一定条件下，输出信号的稳定性。

2.6 重复性
指元件在相同条件下，输出信号的重复性。

三、技术要求
3.1 外观
元件表面应平整，无裂纹、气泡、污染等缺陷。

3.2 电学性能
元件的电学性能应符合设计要求。

3.3 灵敏度
元件的灵敏度应符合设计要求。

3.4 响应时间和恢复时间
元件的响应时间和恢复时间应符合设计要求。

3.5 稳定性和重复性
元件的稳定性和重复性应符合设计要求。

四、试验方法
4.1 外观检验
采用目视检查法进行。

4.2 电学性能检验
采用电学性能测试仪进行。

4.3 灵敏度检验
采用气体检测仪进行。

4.4 响应时间和恢复时间检验
采用气体检测仪进行。

4.5 稳定性和重复性检验
采用气体检测仪进行。

五、标志、包装、运输和贮存
5.1 标志
元件应标明元件名称、型号、生产厂家、生产日期等信息。

5.2 包装
元件应采用防静电包装，包装材料应符合国家标准。

5.3 运输
元件在运输过程中应避免受到震动、碰撞等影响。

5.4 贮存
元件应存放在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中，避免受到阳光直射和高温影响。

相关标准
GB/T 15651-1995 金属氧化物半导体气敏元件试验方法
GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件包装、运输和贮存
GB/T 15654-1995 金属氧化物半导体气敏元件术语和定义
GB/T 15655-1995 金属氧化物半导体气敏元件电学性能试验方法
GB/T 15656-1995 金属氧化物半导体气敏元件灵敏度试验方法