GB/T 15653-1995
金属氧化物半导体气敏元件测试方法
发布时间:1995-07-24 实施时间:1996-04-01
金属氧化物半导体气敏元件是一种常用的气体传感器,广泛应用于环境监测、工业生产、医疗卫生等领域。为了保证气敏元件的质量和可靠性,需要对其进行严格的测试。GB/T 15653-1995《金属氧化物半导体气敏元件测试方法》就是为此而制定的。
本标准主要包括以下内容:
1. 术语和定义:对本标准中所使用的术语和定义进行了说明,以便于理解和使用。
2. 电学性能测试:包括静态电学特性测试和动态电学特性测试。其中,静态电学特性测试包括电阻值测试、电压-电流特性测试、电容值测试等;动态电学特性测试包括响应时间测试、恢复时间测试等。
3. 气敏性能测试:包括气敏特性测试和选择性测试。其中,气敏特性测试包括灵敏度测试、响应时间测试、恢复时间测试等;选择性测试包括选择性系数测试、交叉干扰测试等。
4. 环境适应性测试:包括温度循环试验、湿热循环试验、低温试验、高温试验等。
5. 技术要求:对测试结果的要求进行了说明,包括电学性能、气敏性能和环境适应性等方面。
6. 检验方法:对测试结果的判定方法进行了说明,包括判定标准、判定方法等。
7. 标志、包装、运输:对气敏元件的标志、包装和运输进行了规定。
本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件的测试,可用于气敏元件的质量控制、产品开发和研究等方面。
相关标准
GB/T 10125-2012 电工电子产品加速老化试验方法
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分:通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分:试验B:高温试验
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分:试验Ca:恒湿热试验
GB/T 2423.22-2008 环境试验 第22部分:试验N:低温试验