膜集成电路和混合膜集成电路是现代电子技术中的重要组成部分，其空白的质量直接影响到电路的性能和可靠性。为了保证膜集成电路和混合膜集成电路空白的质量，GB/T 16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)被制定出来。

本标准主要包括以下内容：

1. 技术要求：包括空白的尺寸、形状、表面质量、材料、电气性能、机械性能等方面的要求。

2. 检验方法：包括外观检验、尺寸检验、材料检验、电气性能检验、机械性能检验等方面的检验方法。

3. 标志、包装、运输和贮存：包括空白的标志、包装、运输和贮存等方面的要求。

本标准的实施可以保证膜集成电路和混合膜集成电路空白的质量，提高电路的性能和可靠性，促进电子技术的发展。

相关标准
- GB/T 16467-1996 膜集成电路和混合膜集成电路制造工艺规范(采用能力批准程序)
- GB/T 16468-1996 膜集成电路和混合膜集成电路封装规范(采用能力批准程序)
- GB/T 16469-1996 膜集成电路和混合膜集成电路可靠性试验方法(采用能力批准程序)
- GB/T 16470-1996 膜集成电路和混合膜集成电路质量评定方法(采用能力批准程序)
- GB/T 16471-1996 膜集成电路和混合膜集成电路应用指南(采用能力批准程序)