一、范围
本标准规定了石英晶体元件电子元器件质量评定体系中的鉴定批准的要求和方法。本标准适用于石英晶体元件电子元器件的鉴定批准。

二、引用文件
GB/T 2828.1-2003 采样检验程序 第1部分：按比例抽样检验程序（ISO 2859-1:1999，MOD）
GB/T 2829-2002 采样检验程序与表单的使用 第1部分：按计数抽样检验程序（ISO 3951-1:1999，MOD）
GB/T 4730.1-2005 无损检验用金属材料 第1部分：通用原理（ISO 5577:1991，MOD）
GB/T 4730.2-2005 无损检验用金属材料 第2部分：射线检验（ISO 17636-1:2003，MOD）
GB/T 4730.3-2005 无损检验用金属材料 第3部分：超声波检验（ISO 16810:2003，MOD）

三、术语和定义
3.1 鉴定批准
对石英晶体元件电子元器件的生产批次进行检验，以确定其是否符合规定的技术要求和质量标准的过程。

3.2 鉴定批
在同一生产过程中，按照同一工艺条件生产的、同一种类、同一规格、同一等级、同一批次的产品。

3.3 鉴定样品
从鉴定批中随机抽取的样品。

3.4 鉴定结果
对鉴定样品进行检验后得出的结论。

四、鉴定批准的要求
4.1 鉴定批准应在生产过程中进行，以保证产品的质量符合规定的技术要求和质量标准。

4.2 鉴定批准应按照规定的程序进行，包括采样、检验、判定和记录等环节。

4.3 鉴定批准应由具有相应资质的检验机构进行。

五、鉴定批准的方法
5.1 采样
5.1.1 采样应按照GB/T 2828.1-2003或GB/T 2829-2002的规定进行。

5.1.2 鉴定样品的数量应符合规定的要求。

5.2 检验
5.2.1 检验应按照产品的技术要求和质量标准进行。

5.2.2 检验应由具有相应资质的检验人员进行。

5.3 判定
5.3.1 鉴定结果应根据产品的技术要求和质量标准进行判定。

5.3.2 鉴定结果应由具有相应资质的检验人员进行。

5.4 记录
5.4.1 鉴定结果应及时记录，并保存相关记录。

5.4.2 鉴定结果应向生产部门和质量管理部门报告。

六、鉴定结果的处理
6.1 鉴定结果为合格的，鉴定批准通过。

6.2 鉴定结果为不合格的，鉴定批准不通过。

6.3 鉴定结果为部分合格的，应按照规定的程序进行处理。

七、鉴定批准的有效期
7.1 鉴定批准的有效期应按照产品的技术要求和质量标准进行规定。

7.2 鉴定批准的有效期过期后，应重新进行鉴定批准。

八、包装、运输和贮存
8.1 包装、运输和贮存应按照产品的技术要求和质量标准进行。

8.2 包装、运输和贮存应符合国家相关标准的要求。

九、标志和标签
9.1 鉴定批准通过的产品应在包装上标明“鉴定批准合格”。

9.2 鉴定批准不通过的产品应在包装上标明“鉴定批准不合格”。

十、质量记录
10.1 鉴定批准的质量记录应包括以下内容：
（1）鉴定批准的日期和编号；
（2）鉴定样品的数量和来源；
（3）检验结果和判定结果；
（4）鉴定批准的有效期；
（5）其他相关信息。

10.2 鉴定批准的质量记录应保存至少5年。

相关标准
GB/T 2828.1-2003 采样检验程序 第1部分：按比例抽样检验程序（ISO 2859-1:1999，MOD）
GB/T 2829-2002 采样检验程序与表单的使用 第1部分：按计数抽样检验程序（ISO 3951-1:1999，MOD）
GB/T 4730.1-2005 无损检验用金属材料 第1部分：通用原理（ISO 5577:1991，MOD）
GB/T 4730.2-2005 无损检验用金属材料 第2部分：射线检验（ISO 17636-1:2003，MOD）
GB/T 4730.3-2005 无损检验用金属材料 第3部分：超声波检验（ISO 16810:2003，MOD）