介电晶体是一种具有特殊电学性质的晶体材料,广泛应用于电子、通信、计算机等领域。介电晶体的介电性能是其重要的性能指标之一,对于保证电子设备的正常工作具有重要意义。GB/T 16822-1997《介电晶体介电性能的试验方法》是介电晶体介电性能试验的标准,下面将对该标准进行介绍。
1. 适用范围
本标准适用于介电常数小于等于1000的介电晶体的介电性能试验。
2. 试验方法
2.1 介电常数和介质损耗的测定方法
介电常数和介质损耗是介电晶体的两个重要参数,其测定方法如下:
(1)测定介电常数:采用电桥法或谐振法测定介电常数。
(2)测定介质损耗:采用谐振法或热谐振法测定介质损耗。
2.2 介电强度的测定方法
介电强度是介电晶体的耐电压能力,其测定方法如下:
(1)测定直流介电强度:采用直流电压法测定介电强度。
(2)测定交流介电强度:采用交流电压法测定介电强度。
2.3 体积电阻率和表面电阻率的测定方法
体积电阻率和表面电阻率是介电晶体的电阻性能指标,其测定方法如下:
(1)测定体积电阻率:采用电桥法或电流法测定体积电阻率。
(2)测定表面电阻率:采用电桥法或电流法测定表面电阻率。
2.4 介电常数温度系数和介质损耗温度系数的测定方法
介电常数温度系数和介质损耗温度系数是介电晶体的温度特性指标,其测定方法如下:
(1)测定介电常数温度系数:采用电桥法或谐振法测定介电常数随温度的变化。
(2)测定介质损耗温度系数:采用谐振法或热谐振法测定介质损耗随温度的变化。
3. 试验条件
试验条件应符合以下要求:
(1)试验温度:20℃±5℃。
(2)试验湿度:相对湿度不大于80%。
(3)试验电压:介电强度试验时,直流电压不大于额定电压的80%;交流电压不大于额定电压的70%。
(4)试验频率:介电常数、介质损耗、介电常数温度系数和介质损耗温度系数的试验频率为1kHz;体积电阻率和表面电阻率的试验频率为10kHz。
4. 试验结果的表示
试验结果应包括试验数值和误差范围,误差范围应符合GB/T 8170的规定。
相关标准
GB/T 8170-2008 计量单位和其使用方法
GB/T 16823-1997 介电晶体的尺寸测量方法
GB/T 16824-1997 介电晶体的外观检验方法
GB/T 16825-1997 介电晶体的包装、标志、运输和贮存方法
GB/T 16826-1997 介电晶体的样品制备方法