电子设备用机电元件是电子设备中不可或缺的一部分，其质量和可靠性直接影响到整个电子设备的性能和寿命。为了保证电子设备的质量和可靠性，需要对机电元件进行各种试验，以验证其性能和可靠性。GB/T 5095.5-1997《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验》就是针对电子设备用机电元件的试验标准之一。

该标准主要包括四个试验项目：撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验。其中，撞击试验和静负荷试验是机电元件的基本试验，寿命试验和过负荷试验则是对机电元件的可靠性进行验证的试验。

撞击试验是指在机电元件自由状态下，用一定的冲击力对其进行试验，以验证其耐冲击性能。该试验主要包括两个试验方法：自由落锤法和弹簧法。自由落锤法是指将一定质量的落锤从一定高度自由落下，撞击机电元件，以验证其耐冲击性能。弹簧法是指用一定的弹簧将落锤弹起，撞击机电元件，以验证其耐冲击性能。静负荷试验是指在机电元件固定状态下，施加一定的静载荷，以验证其耐载能力。该试验主要包括两个试验方法：单向载荷法和双向载荷法。单向载荷法是指在机电元件上施加一个方向的载荷，以验证其耐载能力。双向载荷法是指在机电元件上施加两个方向的载荷，以验证其耐载能力。

寿命试验是指在一定的工作条件下，对机电元件进行长时间的试验，以验证其使用寿命。该试验主要包括两个试验方法：常温寿命试验和高温寿命试验。常温寿命试验是指在常温下对机电元件进行长时间的试验，以验证其使用寿命。高温寿命试验是指在高温下对机电元件进行长时间的试验，以验证其使用寿命。

过负荷试验是指在机电元件的额定工作条件下，施加一定的过负荷，以验证其耐过负荷能力。该试验主要包括两个试验方法：短时过负荷试验和长时过负荷试验。短时过负荷试验是指在机电元件的额定工作条件下，施加一定的过负荷，持续一定的时间，以验证其耐过负荷能力。长时过负荷试验是指在机电元件的额定工作条件下，施加一定的过负荷，持续较长的时间，以验证其耐过负荷能力。

总之，GB/T 5095.5-1997《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验》是电子设备用机电元件试验的重要标准之一，对于保证电子设备的质量和可靠性具有重要的意义。

相关标准
GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:通用试验方法
GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:电气性能试验
GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:机械性能试验
GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:环境试验
GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:热试验