GB/T 5095.9-1997
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验
发布时间:1997-12-26 实施时间:1998-10-01
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GB/T 5095.9-1997《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验》是一项关于电子设备用机电元件的基本试验规程和测量方法的标准。该标准主要针对电子设备用机电元件的杂项试验进行规定,旨在保证电子设备用机电元件的质量和可靠性。
该标准规定了电子设备用机电元件的杂项试验的基本试验规程和测量方法。其中,杂项试验包括机械强度试验、耐热试验、耐湿试验、耐冷试验、耐热冲击试验、耐湿热循环试验、耐盐雾试验、耐气候试验、耐辐射试验、耐振动试验、耐冲击试验、耐静电放电试验、耐电磁干扰试验等。
在进行杂项试验时,应按照标准规定的试验方法进行,同时应注意试验条件的控制和测量方法的准确性。试验结果应符合标准规定的要求,否则应视为不合格。
该标准适用于电子设备用机电元件的杂项试验,包括电子元器件、电子器件、电子部件、电子模块、电子设备等。
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