GB/T 5965-2000标准适用于双极型单片数字集成电路门电路，包括与门、或门、非门、异或门、与非门、或非门、多路选择器、译码器、计数器、触发器等。该标准规定了双极型单片数字集成电路门电路的分类、符号、特性、参数、试验方法、质量要求、标记、包装、存储和运输等方面的内容。

该标准对双极型单片数字集成电路门电路的分类进行了详细的说明，包括门电路的种类、逻辑功能、引脚数、封装形式等。同时，该标准还规定了双极型单片数字集成电路门电路的符号表示方法，以便于在电路图中使用。

在特性和参数方面，该标准规定了双极型单片数字集成电路门电路的电气特性、静态参数、动态参数、温度特性等。其中，电气特性包括输入电压、输出电压、输入电流、输出电流等；静态参数包括逻辑电平、输入电阻、输出电阻等；动态参数包括传输延迟、上升时间、下降时间等；温度特性包括工作温度范围、温度系数等。

在试验方法方面，该标准规定了双极型单片数字集成电路门电路的试验方法，包括静态电气特性试验、动态电气特性试验、温度特性试验等。同时，该标准还规定了试验条件、试验装置、试验步骤等内容。

在质量要求方面，该标准规定了双极型单片数字集成电路门电路的质量要求，包括外观、尺寸、引脚、电气特性、静态参数、动态参数、温度特性等。同时，该标准还规定了质量检验的方法和标准。

在标记、包装、存储和运输方面，该标准规定了双极型单片数字集成电路门电路的标记、包装、存储和运输要求，以确保产品的质量和安全性。

相关标准
GB/T 5964-2000 半导体器件 集成电路 第1部分:数字集成电路 通用规范
GB/T 5966-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:数字集成电路 第二篇:自由逻辑阵列 空白详细规范
GB/T 10125-1997 半导体器件 集成电路 试验方法
GB/T 10126-1997 半导体器件 集成电路 质量评定方法
GB/T 10127-1997 半导体器件 集成电路 标记、包装、运输和贮存方法