1.范围
本标准适用于纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块的空白。

2.引用标准
本标准引用下列标准：
GB/T 191-2000 包装通用术语
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第2部分：试验A：低温试验的方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验的方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第2部分：试验Ca：恒湿热试验的方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第2部分：试验Db：盐雾试验的方法

3.术语和定义
3.1 Pin-FET模块
由光电二极管和场效应晶体管组成的光电子器件。

3.2 带尾纤Pin-FET模块
具有一定长度的光纤尾纤的Pin-FET模块。

3.3 不带尾纤Pin-FET模块
不具有光纤尾纤的Pin-FET模块。

4.尺寸
4.1 带尾纤Pin-FET模块的尺寸应符合设计要求。

4.2 不带尾纤Pin-FET模块的尺寸应符合设计要求。

5.性能
5.1 带尾纤Pin-FET模块的性能应符合设计要求。

5.2 不带尾纤Pin-FET模块的性能应符合设计要求。

6.试验方法
6.1 外观检查
应检查Pin-FET模块的外观是否完好，无损伤、变形、污染等现象。

6.2 尺寸检查
应使用合适的测量工具对Pin-FET模块的尺寸进行检查。

6.3 性能检查
应使用合适的测试设备对Pin-FET模块的性能进行检查。

6.4 环境试验
应按照GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2006和GB/T 2423.4-2008的要求进行环境试验。

7.标志
7.1 Pin-FET模块应标明生产厂家、型号、批号、生产日期等信息。

7.2 标志应清晰、不易脱落。

8.包装、运输和贮存
8.1 Pin-FET模块应采用适当的包装材料进行包装，以保证在运输和贮存过程中不受损坏。

8.2 Pin-FET模块应存放在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中，避免阳光直射和高温。

相关标准
GB/T 18904.1-2002 半导体器件 第12-1部分：光电子器件 通用规范
GB/T 18904.2-2002 半导体器件 第12-2部分：光电子器件 光电二极管空白详细规范
GB/T 18904.3-2002 半导体器件 第12-3部分：光电子器件 光电耦合器空白详细规范
GB/T 18904.5-2002 半导体器件 第12-5部分：光电子器件 光电晶体管空白详细规范
GB/T 18904.6-2002 半导体器件 第12-6部分：光电子器件 光电开关空白详细规范