GB/T 17574.9-2006是我国半导体器件 集成电路 第2-9部分的标准之一，主要规定了数字集成电路中的紫外光擦除电可编程MOS只读存储器（EPROM）的空白品质要求、检验方法、标志、包装、运输和贮存等方面的要求。

该标准规定了EPROM的空白品质要求，包括芯片尺寸、引脚位置、引脚数量、引脚排列方式、引脚形状、引脚间距、引脚长度、引脚宽度、引脚高度、引脚材料、芯片厚度、芯片材料、芯片表面状态、芯片表面平整度、芯片表面光洁度、芯片表面氧化膜、芯片表面污染、芯片表面划痕、芯片表面裂纹、芯片表面气泡、芯片表面异物等方面的要求。

此外，该标准还规定了EPROM的检验方法，包括外观检验、引脚位置检验、引脚数量检验、引脚排列方式检验、引脚形状检验、引脚间距检验、引脚长度检验、引脚宽度检验、引脚高度检验、引脚材料检验、芯片厚度检验、芯片材料检验、芯片表面状态检验、芯片表面平整度检验、芯片表面光洁度检验、芯片表面氧化膜检验、芯片表面污染检验、芯片表面划痕检验、芯片表面裂纹检验、芯片表面气泡检验、芯片表面异物检验等方面的检验方法。

此外，该标准还规定了EPROM的标志、包装、运输和贮存等方面的要求，以确保EPROM的品质和可靠性。

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