：
GB/T 5967-2011是一项关于电子设备用固定电容器的标准，其中第8-1部分规定了1类瓷介固定电容器的评定水平EZ的要求和试验方法。该标准适用于电子设备用的瓷介固定电容器。

瓷介固定电容器是一种常见的电子元器件，广泛应用于电子设备中。其主要作用是在电路中存储电荷，以实现电路的稳定性和可靠性。瓷介固定电容器具有体积小、重量轻、稳定性好等优点，因此在电子设备中得到了广泛的应用。

本标准规定了1类瓷介固定电容器的评定水平EZ的要求和试验方法。其中，评定水平EZ是指瓷介固定电容器的质量等级，包括EZP、EZT、EZV三个等级。EZP表示瓷介固定电容器的质量最高，EZV表示瓷介固定电容器的质量最低。

本标准要求瓷介固定电容器必须符合以下要求：

1. 电容量误差不得超过标称值的±5%；
2. 绝缘电阻不得低于标称值的10000MΩ；
3. 耐电压不得低于标称值的2倍；
4. 耐热性能符合规定。

此外，本标准还规定了瓷介固定电容器的试验方法，包括电容量测量、绝缘电阻测量、耐电压试验、耐热试验等。这些试验方法可以有效地检测瓷介固定电容器的质量，保证其在电子设备中的可靠性和稳定性。

总之，GB/T 5967-2011是一项重要的标准，它规定了电子设备用固定电容器第8-1部分：空白详细规范1类瓷介固定电容器评定水平EZ的要求和试验方法，为电子设备的生产和使用提供了重要的指导。

相关标准：
GB/T 10190-2015 电子元器件环境试验标准
GB/T 10191-2015 电子元器件可靠性试验方法
GB/T 10192-2015 电子元器件可靠性保证指南
GB/T 10193-2015 电子元器件可靠性统计方法
GB/T 10194-2015 电子元器件可靠性试验计划和方案的编制