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电子元器件结构陶瓷材料是电子元器件中常用的一种材料，其性能的测试对于电子元器件的设计和制造具有重要的意义。GB/T 5594.4-2015《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》规定了电子元器件结构陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法，为电子元器件结构陶瓷材料的性能测试提供了标准化的方法。

本标准主要包括以下内容：

1.范围：规定了本标准适用的范围。

2.引用标准：列出了本标准中引用的相关标准。

3.术语和定义：对本标准中涉及的术语和定义进行了解释和说明。

4.测试原理：介绍了介电常数和介质损耗角正切值的测试原理。

5.测试仪器：介绍了测试介电常数和介质损耗角正切值所需的仪器设备。

6.试样制备：规定了试样的制备方法和要求。

7.测试程序：详细描述了介电常数和介质损耗角正切值的测试程序。

8.数据处理：对测试结果进行了处理和分析。

9.测试报告：规定了测试报告的内容和格式。

本标准的实施可以保证电子元器件结构陶瓷材料的性能测试结果的准确性和可靠性，为电子元器件的设计和制造提供了重要的参考依据。

相关标准：
GB/T 5594.1-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第1部分：一般规定
GB/T 5594.2-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第2部分：热膨胀系数的测试方法
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：机械性能的测试方法
GB/T 5594.5-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第5部分：电气强度的测试方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法（微波法）