电子元器件结构陶瓷材料是电子元器件中常用的一种材料，其性能的测试对于保证电子元器件的质量和可靠性具有重要意义。平均线膨胀系数是电子元器件结构陶瓷材料的一个重要性能指标，其测试方法在本标准中得到了规定。

本标准规定了电子元器件结构陶瓷材料平均线膨胀系数的测试方法。测试方法包括样品制备、测试装置、测试程序、数据处理等方面的内容。其中，样品制备包括样品的制备和尺寸的测量；测试装置包括热机械分析仪、热电偶、温度控制系统等；测试程序包括测试条件的设定、测试过程的控制等；数据处理包括数据采集、数据处理和结果的计算等。

本标准的实施可以保证电子元器件结构陶瓷材料平均线膨胀系数的测试结果准确可靠，为电子元器件的设计、制造和使用提供了重要的参考依据。

相关标准
- GB/T 5594.1-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第1部分：一般规定
- GB/T 5594.2-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第2部分：介电常数和介质损耗测试方法
- GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：热膨胀系数测试方法
- GB/T 5594.5-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第5部分：热导率测试方法
- GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：机械性能测试方法