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石英晶体元件是一种常用的电子元器件，广泛应用于电子设备中。在使用过程中，石英晶体元件可能会发生活性跳变，导致元件性能下降或失效。因此，对石英晶体元件的活性跳变进行测量是非常重要的。

本标准规定了石英晶体元件活性跳变的测量方法。测量时，需要使用特定的测试设备和测试程序，对石英晶体元件进行测试。测试结果应符合本标准规定的要求。

本标准的主要内容包括：术语和定义、测试设备、测试程序、测试方法、测试结果的处理和报告等。其中，测试设备包括测试仪器、测试电路和测试软件等；测试程序包括测试参数的设置、测试信号的产生和测试数据的采集等；测试方法包括测试前的准备、测试过程中的注意事项和测试后的处理等。

本标准的实施可以有效地保证石英晶体元件的质量和可靠性，提高电子设备的性能和稳定性。

相关标准：
GB/T 22319.1-2015 石英晶体元件参数的测量 第1部分：总则
GB/T 22319.2-2015 石英晶体元件参数的测量 第2部分：频率和频率温度特性的测量
GB/T 22319.3-2015 石英晶体元件参数的测量 第3部分：频率稳定度的测量
GB/T 22319.4-2015 石英晶体元件参数的测量 第4部分：谐振器参数的测量
GB/T 22319.5-2015 石英晶体元件参数的测量 第5部分：谐振器温度特性的测量