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快闪存储器是一种非易失性存储器，广泛应用于各种电子设备中。为了保证快闪存储器的质量和可靠性，需要对其进行测试。GB/T 36477-2018《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》就是为了规范快闪存储器的测试而制定的标准。

该标准主要包括以下内容：

1.测试环境：规定了测试环境的温度、湿度、气压等参数，以及测试时应遵守的安全规定。

2.测试设备：规定了测试设备的要求，包括测试仪器、测试程序、测试工具等。

3.测试程序：规定了测试程序的编写方法和要求，包括测试程序的功能、测试流程、测试参数等。

4.测试参数：规定了测试时需要测量的参数，包括电气参数、时序参数、逻辑参数等。

5.测试方法：规定了测试方法的步骤和要求，包括测试前的准备工作、测试过程中的注意事项、测试结果的判定等。

6.测试结果的判定和报告：规定了测试结果的判定方法和报告要求，包括测试结果的统计分析、测试报告的格式和内容等。

通过遵守该标准，可以保证快闪存储器的测试结果准确可靠，提高产品质量和可靠性，降低生产成本和维修成本，促进行业的健康发展。

相关标准：
GB/T 36476-2018 半导体集成电路 通用测试方法
GB/T 36478-2018 半导体集成电路 静态随机存储器测试方法
GB/T 36479-2018 半导体集成电路 动态随机存储器测试方法
GB/T 36480-2018 半导体集成电路 静态存储器测试方法
GB/T 36481-2018 半导体集成电路 动态存储器测试方法