GB/T 36646-2018
制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备
发布时间:2018-09-17 实施时间:2019-01-01


氮化物半导体材料是一种新型的半导体材料,具有优异的电学、光学和热学性能,被广泛应用于LED、LD、HBT、HEMT等领域。氢化物气相外延设备是制备氮化物半导体材料的关键设备之一,其性能和质量直接影响到氮化物半导体材料的质量和性能。为了保证氮化物半导体材料的质量和性能,制定了GB/T 36646-2018标准,规定了制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备的技术要求、检验方法、标志、包装、运输和贮存。

本标准适用于制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备的设计、制造、检验和使用。

1.术语和定义
本标准中使用的术语和定义见GB/T 20042.1-2018《氮化物半导体材料及器件通用术语》。

2.技术要求
2.1 设备结构
氢化物气相外延设备应具有合理的结构,易于操作和维护。设备应包括反应室、加热系统、气体输送系统、真空系统、控制系统等部分。反应室应具有良好的密封性能,能够承受高温高压的反应环境。加热系统应能够提供均匀的加热温度场,保证反应物料的均匀沉积。气体输送系统应能够准确地控制气体流量和压力,保证反应气氛的稳定性。真空系统应能够提供高度的真空度,保证反应室内的气体污染和杂质含量。控制系统应能够实现设备的自动化控制和数据采集,保证设备的稳定性和可靠性。

2.2 设备性能
氢化物气相外延设备应具有以下性能:
(1)反应温度范围:1000℃~1300℃;
(2)反应压力范围:10kPa~100kPa;
(3)反应气体:NH3、H2、N2、SiH4、TMG等;
(4)反应室尺寸:直径≥100mm,高度≥100mm;
(5)反应室材料:石英、石墨等;
(6)加热方式:电阻加热、感应加热等;
(7)气体输送方式:质量流量控制、压力控制等;
(8)真空度:10-3Pa以下。

2.3 设备质量
氢化物气相外延设备应具有以下质量要求:
(1)设备应符合设计要求,结构合理,工艺先进,性能稳定可靠;
(2)设备应具有完整的技术文件和检验记录;
(3)设备应经过严格的出厂检验和调试,达到设计要求;
(4)设备应具有完善的售后服务和质量保证体系。

3.检验方法
3.1 设备外观检验
对氢化物气相外延设备进行外观检验,应检查设备的表面是否平整、无裂纹、无氧化、无锈蚀、无变形等缺陷。

3.2 设备性能检验
对氢化物气相外延设备进行性能检验,应按照设计要求进行检验,包括反应温度、反应压力、气体流量、真空度等性能指标的检测。

3.3 设备质量检验
对氢化物气相外延设备进行质量检验,应检查设备的技术文件、检验记录、出厂检验报告等质量证明文件,以及设备的结构、工艺、性能等方面是否符合标准要求。

相关标准
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