半导体器件是现代电子技术的重要组成部分，其可靠性和稳定性对于电子产品的质量和性能至关重要。半导体器件引出端强度（引线牢固性）是半导体器件可靠性的重要指标之一，其测试方法和评定标准对于半导体器件的质量控制和产品设计具有重要意义。

GB/T 4937.14-2018标准规定了半导体器件引出端强度的测试方法和评定标准。该标准要求在机械试验和气候试验两种条件下进行测试，以模拟半导体器件在使用过程中可能遇到的各种环境和应力。测试时需要使用专用的测试设备和工具，对半导体器件的引出端进行拉伸、弯曲等多种试验，以评估其引线牢固性和可靠性。

在测试过程中，需要对半导体器件进行多次试验，以确保测试结果的准确性和可靠性。测试结果需要按照标准规定的评定标准进行判定，以确定半导体器件是否符合要求。如果测试结果不符合要求，则需要对半导体器件进行改进或者重新设计，以提高其引出端强度和可靠性。

半导体器件引出端强度测试是半导体器件可靠性测试的重要组成部分，其结果对于半导体器件的质量和性能具有重要影响。因此，在进行半导体器件引出端强度测试时，需要严格按照标准规定的测试方法和评定标准进行，以确保测试结果的准确性和可靠性。

相关标准
- GB/T 4937.1-2016 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：一般规定
- GB/T 4937.2-2016 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：引线弯曲试验
- GB/T 4937.3-2016 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：引线拉伸试验
- GB/T 4937.4-2016 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：引线剪切试验
- GB/T 4937.5-2016 半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分：引线扭转试验