一、范围
本标准适用于高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法。
二、引用标准
GB/T 6394-2002 金属材料拉伸试验方法
GB/T 8170-2008 数字表示法和圆整规则
GB/T 12525-2005 金属材料室温单轴应力应变试验方法
GB/T 20066-2006 金属材料高温拉伸试验方法
GB/T 20123-2006 金属材料室温压缩试验方法
三、术语和定义
3.1 AlGaAs
AlxGa1-xAs,其中0≤x≤1。
3.2 AlAs
铝砷化物,化学式为AlAs。
3.3 GaAs
砷化镓,化学式为GaAs。
3.4 衬底
在晶体生长过程中,作为晶体生长的基底的材料。
3.5 Al成分
AlGaAs中Al元素的含量。
四、试验方法
4.1 样品制备
样品应制备成薄膜或晶体形式,表面应平整光滑,无明显缺陷。
4.2 试验仪器
使用高分辨率X射线衍射仪进行试验。
4.3 试验条件
试验温度为室温,X射线管电压为40kV,电流为40mA,扫描速度为0.02°/s。
4.4 试验步骤
(1)将样品放置在高分辨率X射线衍射仪的样品台上。
(2)调整试验仪器,使其符合试验条件。
(3)开始试验,记录X射线衍射图谱。
(4)根据X射线衍射图谱,计算Al成分。
4.5 数据处理
根据试验结果,计算Al成分的含量。
五、试验报告
试验报告应包括以下内容:
(1)试验日期和地点;
(2)试验人员姓名;
(3)试验样品的标识;
(4)试验仪器的型号和编号;
(5)试验条件;
(6)试验结果;
(7)试验结论。
相关标准
GB/T 6394-2002 金属材料拉伸试验方法
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GB/T 20123-2006 金属材料室温压缩试验方法