太阳能级硅是太阳能电池的主要材料之一，其纯度和痕量元素含量对太阳能电池的性能有着重要的影响。因此，准确测量太阳能级硅中痕量元素的含量是太阳能电池研究和生产中的重要问题之一。

本标准采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的含量。该方法具有灵敏度高、准确度高、选择性好等优点，能够同时测量多种元素的含量。

具体测试方法如下：

1. 样品制备

将太阳能级硅样品切割成小块，用去离子水和有机溶剂清洗干净，然后用氢氟酸和硝酸混合液进行酸洗，去除表面的氧化物和杂质。

2. 样品分析

将样品放入辉光放电质谱仪中进行分析。在分析过程中，需要注意以下几点：

（1）选择合适的分析条件，包括放电电流、放电时间、气体流量等参数。

（2）根据需要选择合适的分析线，避免干扰。

（3）进行质量校准，确保分析结果的准确性。

3. 数据处理

根据分析结果计算样品中痕量元素的含量。需要注意的是，由于太阳能级硅中痕量元素的含量很低，因此需要进行多次分析，取平均值作为最终结果。

相关标准
GB/T 32650-2016 太阳能电池用硅片
GB/T 32652-2016 太阳能电池用硅片掺杂均匀度的测定方法
GB/T 32653-2016 太阳能电池用硅片电学性能的测定方法
GB/T 32654-2016 太阳能电池用硅片表面缺陷的测定方法
GB/T 32655-2016 太阳能电池用硅片杂质含量的测定方法