GB/T 18210-2000
晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量
发布时间:2000-10-17 实施时间:2001-05-01


晶体硅光伏(PV)方阵是一种将太阳能转化为电能的设备,其I-V特性是评估其性能的重要指标之一。为了保证晶体硅光伏(PV)方阵的性能和质量,需要对其I-V特性进行现场测量。本标准就是为了规范晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量方法和要求。

1.适用范围
本标准适用于晶体硅光伏(PV)方阵的I-V特性现场测量。

2.测量原理
晶体硅光伏(PV)方阵的I-V特性是指在不同光照强度下,其输出电流与输出电压之间的关系。测量时,需要将晶体硅光伏(PV)方阵连接到负载上,通过改变负载的电阻,测量不同电压下的电流值,从而得到I-V特性曲线。

3.测量要求
3.1 测量设备
测量设备应符合国家相关标准,且应具有足够的精度和稳定性。
3.2 测量环境
测量环境应符合国家相关标准,且应保持稳定。
3.3 测量方法
测量方法应符合国家相关标准,且应保证测量精度和可靠性。
3.4 测量数据处理
测量数据应进行有效处理,确保数据的准确性和可靠性。

4.测量报告
测量报告应包括以下内容:
4.1 测量日期和地点;
4.2 测量设备的型号和编号;
4.3 测量环境的温度、湿度等参数;
4.4 测量方法和过程;
4.5 测量数据和处理结果;
4.6 结论和建议。

相关标准:
GB/T 9535-2006 晶体硅光伏电池片
GB/T 9536-2006 晶体硅光伏组件
GB/T 19964-2017 光伏电站工程建设技术规范
GB/T 19965-2017 光伏电站工程质量验收规范
GB/T 19966-2017 光伏电站工程运行与维护规范