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硅（锂）X射线探测器系统是一种用于X射线成像的探测器系统，具有高能量分辨率、高计数率、低噪声等优点，广泛应用于医学、工业、安检等领域。为了保证硅（锂）X射线探测器系统的性能和可靠性，GB/T 13179-2008 硅（锂）X射线探测器系统标准对其进行了规范。

该标准主要包括以下内容：

1. 性能要求：包括能量分辨率、计数率、线性度、空间分辨率、时间分辨率等指标。其中，能量分辨率是指探测器对不同能量的X射线的分辨能力，计数率是指探测器在单位时间内能够处理的X射线数量，线性度是指探测器输出信号与输入X射线能量之间的线性关系，空间分辨率是指探测器对X射线成像的空间分辨能力，时间分辨率是指探测器对X射线时间分辨的能力。

2. 测试方法：包括能量分辨率测试、计数率测试、线性度测试、空间分辨率测试、时间分辨率测试等。其中，能量分辨率测试是通过测量探测器对不同能量的X射线的响应来计算能量分辨率，计数率测试是通过测量探测器在不同计数率下的输出信号来计算计数率，线性度测试是通过测量探测器输出信号与输入X射线能量之间的关系来计算线性度，空间分辨率测试是通过测量探测器对不同空间分辨率的X射线成像的响应来计算空间分辨率，时间分辨率测试是通过测量探测器对不同时间分辨率的X射线的响应来计算时间分辨率。

3. 标准要求：包括探测器系统应具有的基本性能要求、测试方法要求、标志和标签要求等。

通过对硅（锂）X射线探测器系统的性能要求和测试方法的规范，可以保证探测器系统的性能和可靠性，提高X射线成像的质量和准确性，为医学、工业、安检等领域的应用提供可靠的技术支持。

相关标准：
GB/T 16857-1997 X射线成像系统性能检测方法
GB/T 16858-1997 X射线成像系统性能检测术语
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