GB/T 5201-2012
带电粒子半导体探测器测量方法
发布时间:2012-06-29 实施时间:2012-11-01
带电粒子半导体探测器是一种用于探测带电粒子的探测器,广泛应用于核物理、粒子物理、辐射防护等领域。本标准规定了带电粒子半导体探测器的测量方法,包括能量分辨率、探测效率等指标的测量方法。
1. 能量分辨率的测量方法
能量分辨率是指探测器对不同能量的粒子的能量分辨能力。本标准规定了两种测量方法:单能峰法和双能峰法。单能峰法适用于能量分辨率较好的探测器,双能峰法适用于能量分辨率较差的探测器。在测量过程中,需要注意探测器的温度、电压等参数的稳定性,以及背景辐射的影响。
2. 探测效率的测量方法
探测效率是指探测器对入射粒子的探测率。本标准规定了两种测量方法:源法和比较法。源法适用于探测效率较高的探测器,比较法适用于探测效率较低的探测器。在测量过程中,需要注意探测器与源的距离、源的放置方式等因素的影响。
3. 其他指标的测量方法
本标准还规定了其他指标的测量方法,包括峰位漂移、线性范围、时间分辨率等。在测量过程中,需要注意探测器的稳定性、背景辐射的影响等因素。
4. 测量结果的表示
测量结果应当包括测量值、不确定度和置信度等信息。在报告中应当说明测量方法、测量条件、测量结果及其不确定度等信息。
相关标准
- GB/T 13926-2018 核辐射防护用放射性粒子探测器
- GB/T 13927-2018 核辐射防护用放射性射线探测器
- GB/T 13928-2018 核辐射防护用放射性射线探测器的能量响应
- GB/T 13929-2018 核辐射防护用放射性射线探测器的时间响应
- GB/T 13930-2018 核辐射防护用放射性射线探测器的空间响应