GB/T 40291-2021
核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法
发布时间:2021-05-21 实施时间:2021-12-01


高纯度锗晶体是一种重要的半导体材料,广泛应用于核仪器仪表中的辐射探测器。为了保证辐射探测器的性能和精度,需要对高纯度锗晶体的基本特性进行测量和评估。本标准规定了高纯度锗晶体的测量方法,以确保其质量和性能符合要求。

1.晶体几何尺寸的测量方法
晶体几何尺寸是高纯度锗晶体的重要参数之一,包括晶体直径、长度、平行度、端面平整度等。本标准规定了晶体几何尺寸的测量方法,包括使用显微镜、卡尺、平行仪等工具进行测量,并对测量结果进行分析和评估。

2.电学特性的测量方法
高纯度锗晶体的电学特性是其在辐射探测器中的重要性能指标之一,包括电阻率、载流子迁移率、电容等。本标准规定了电学特性的测量方法,包括使用四探针法、霍尔效应测量法、电容测量法等进行测量,并对测量结果进行分析和评估。

3.光学特性的测量方法
高纯度锗晶体的光学特性是其在辐射探测器中的重要性能指标之一,包括折射率、吸收系数、光学透过率等。本标准规定了光学特性的测量方法,包括使用分光光度计、激光光谱仪等仪器进行测量,并对测量结果进行分析和评估。

4.放射性特性的测量方法
高纯度锗晶体的放射性特性是其在辐射探测器中的重要性能指标之一,包括本底计数率、能谱响应等。本标准规定了放射性特性的测量方法,包括使用放射性计数器、多道分析器等仪器进行测量,并对测量结果进行分析和评估。

5.热学特性的测量方法
高纯度锗晶体的热学特性是其在辐射探测器中的重要性能指标之一,包括热导率、热膨胀系数等。本标准规定了热学特性的测量方法,包括使用热导率仪、热膨胀仪等仪器进行测量,并对测量结果进行分析和评估。

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