微处理器仪表是一种基于微处理器技术的仪表，具有高精度、高可靠性、易于操作等特点，广泛应用于各种工业控制、测试、检测等领域。为了保证微处理器仪表的精度和可靠性，需要对其进行评定。GB/T 19767-2005就是为了规范微处理器仪表的评定方法而制定的。

该标准规定了微处理器仪表的测试方法、测试内容、测试要求、测试结果的处理方法等方面的内容。其中，测试方法包括静态测试和动态测试两种。静态测试是指在不改变被测仪表状态的情况下进行的测试，主要测试仪表的精度和稳定性；动态测试是指在改变被测仪表状态的情况下进行的测试，主要测试仪表的响应速度和动态性能。

测试内容包括仪表的基本误差、灵敏度、线性度、重复性、稳定性、响应时间等方面。测试要求包括测试环境、测试设备、测试方法、测试数据处理等方面。测试结果的处理方法包括数据处理、误差分析、评定结果等方面。

通过GB/T 19767-2005规定的评定方法，可以对微处理器仪表的精度和可靠性进行全面的测试和评定，从而保证其在实际应用中的准确性和稳定性，提高其使用效果。

相关标准
GB/T 19768-2005 基于微处理器仪表的精度检验方法
GB/T 19769-2005 基于微处理器仪表的可靠性检验方法
GB/T 19770-2005 基于微处理器仪表的环境适应性检验方法
GB/T 19771-2005 基于微处理器仪表的安全性检验方法
GB/T 19772-2005 基于微处理器仪表的通信性能检验方法