柔性薄膜基体是一种非常薄的材料，通常用于制造电子产品、太阳能电池等。在这些产品中，涂层的厚度是非常重要的参数，因为它直接影响产品的性能。因此，准确测量涂层厚度是非常重要的。

本标准规定了两种测量涂层厚度的方法：光学显微镜法和扫描电子显微镜法。这两种方法都可以用于测量各种类型的涂层，包括金属、陶瓷、聚合物等。

光学显微镜法是一种非常常见的测量涂层厚度的方法。它使用一台光学显微镜来观察涂层的表面，并通过测量涂层表面和基体之间的距离来计算涂层厚度。这种方法的优点是简单易行，不需要特殊的设备，可以在实验室中进行。但是，它的精度受到光学显微镜的分辨率限制，因此对于非常薄的涂层，精度可能不够高。

扫描电子显微镜法是一种更为精确的测量涂层厚度的方法。它使用一台扫描电子显微镜来观察涂层的表面，并通过测量涂层表面和基体之间的距离来计算涂层厚度。这种方法的优点是精度高，可以测量非常薄的涂层。但是，它需要特殊的设备，并且需要在实验室中进行。

在使用这两种方法时，需要注意一些细节。例如，在使用光学显微镜法时，需要选择合适的放大倍数和对焦位置，以确保测量结果的准确性。在使用扫描电子显微镜法时，需要注意样品的制备和处理，以避免样品表面的污染和损伤。

总之，本标准规定了两种测量涂层厚度的方法，可以帮助用户准确测量柔性薄膜基体上的涂层厚度，从而提高产品的性能和质量。

相关标准
- GB/T 38519-2020 柔性薄膜基体上涂层附着力的测量方法
- GB/T 38520-2020 柔性薄膜基体上涂层表面形貌的测量方法
- GB/T 38521-2020 柔性薄膜基体上涂层厚度均匀性的测量方法
- GB/T 38522-2020 柔性薄膜基体上涂层耐磨性的测量方法
- GB/T 38523-2020 柔性薄膜基体上涂层耐腐蚀性的测量方法