GB/T 19801-2005
无损检测 声发射检测 声发射传感器的二级校准
发布时间:2005-06-08 实施时间:2005-12-01


声发射检测是一种无损检测方法,它通过检测材料或结构中的声发射信号来判断其内部的缺陷情况。声发射传感器是声发射检测的核心部件,其性能的好坏直接影响到声发射检测的准确性和可靠性。因此,对声发射传感器进行校准是非常重要的。

本标准规定了声发射传感器的二级校准方法和要求。二级校准是指在一级校准的基础上,对声发射传感器的灵敏度、频率响应等性能指标进行更为精细的校准。二级校准的目的是保证声发射传感器的性能指标符合要求,提高声发射检测的准确性和可靠性。

本标准规定了声发射传感器二级校准的基本要求、校准装置、校准程序、校准结果的评定等内容。其中,校准装置包括校准系统、校准信号源、校准传感器等。校准程序包括校准前准备、校准参数的设置、校准信号的发生、校准数据的采集等。校准结果的评定包括校准数据的处理、校准结果的判定等。

本标准适用于声发射传感器的二级校准。对于声发射传感器的一级校准,可参考GB/T 19800-2005《无损检测 声发射检测 声发射传感器的一级校准》进行操作。

相关标准
- GB/T 19800-2005 无损检测 声发射检测 声发射传感器的一级校准
- GB/T 19802-2005 无损检测 声发射检测 声发射检测系统的校准
- GB/T 19803-2005 无损检测 声发射检测 声发射检测数据的处理和分析
- GB/T 19804-2005 无损检测 声发射检测 声发射检测报告的编制
- GB/T 19805-2005 无损检测 声发射检测 声发射检测人员的资格和培训