纳米材料是指至少有一维尺寸在1-100纳米之间的材料。由于其尺寸小，表面积大，晶粒尺寸和微观应变的测定对于纳米材料的研究具有重要意义。X射线衍射线宽化法是一种常用的测定纳米材料晶粒尺寸及微观应变的方法。

本标准规定了X射线衍射线宽化法测定纳米材料晶粒尺寸及微观应变的方法。该方法适用于晶粒尺寸在2-100纳米之间的纳米材料。测定前需要对样品进行适当的制备和处理，确保样品的均匀性和稳定性。测定时需要使用适当的X射线衍射仪器，并按照标准要求进行测量和数据处理。

本标准的实施可以帮助科研人员和工程技术人员准确测定纳米材料的晶粒尺寸和微观应变，为纳米材料的研究和应用提供科学依据。

相关标准
GB/T 23412-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 透射电子显微镜法
GB/T 23414-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 透射电子衍射法
GB/T 23415-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 原子力显微镜法
GB/T 23416-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 拉曼光谱法
GB/T 23417-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 磁性测量法