晶体折射率是晶体物理性质的重要参数之一，对于晶体的制备、加工和应用具有重要意义。本标准规定了测定晶体折射率的试验方法，适用于单晶、多晶和薄膜等晶体材料的折射率测定。

1. 范围
本标准适用于测定晶体折射率的试验方法。

2. 仪器设备
2.1 折射仪：应具有高精度、高稳定性和高分辨率。
2.2 光源：应具有稳定的光强和波长。
2.3 样品支架：应具有稳定的样品支撑和定位功能。
2.4 温度控制装置：应具有精确的温度控制和稳定性。

3. 样品制备
3.1 样品应具有光学均匀性和表面平整度。
3.2 样品应在室温下放置一段时间，使其温度与环境温度相同。

4. 实验步骤
4.1 样品放置：将样品放置在样品支架上，并使其与折射仪光路垂直。
4.2 光路调整：调整折射仪光路，使光线垂直于样品表面，并使光线通过样品中心。
4.3 测量：记录样品在不同波长下的折射率，并计算平均值。

5. 数据处理
5.1 计算折射率：根据测量结果计算样品在不同波长下的折射率。
5.2 绘制曲线：将折射率与波长绘制成曲线图。

6. 实验注意事项
6.1 样品应保持干燥和清洁。
6.2 样品应避免受到机械冲击和振动。
6.3 光源应保持稳定，避免光强和波长的变化。
6.4 样品支架应具有稳定的支撑和定位功能。
6.5 实验室应保持恒温和恒湿状态。

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