低温下晶体透射率的试验方法是一种用于测量晶体在低温下透射率的试验方法。该方法适用于各种晶体，如石英、蓝宝石、钻石等。本标准的目的是为了保证晶体在低温下的透射率符合要求，以确保晶体在各种应用中的性能和质量。

1. 试验设备
1.1 低温箱：温度范围为-196℃至室温，精度为±1℃。
1.2 光源：波长范围为200nm至2500nm，光强度为1000W/m2。
1.3 光电探测器：灵敏度范围为200nm至2500nm，分辨率为0.1nm。
1.4 试样支架：用于固定试样。

2. 试验步骤
2.1 将试样放置在试样支架上，放入低温箱中，使其温度降至所需温度。
2.2 打开光源，使光线通过试样，进入光电探测器。
2.3 记录光电探测器的读数，即为试样在该温度下的透射率。

3. 试验结果的处理
3.1 对于每个温度下的透射率，应进行三次测量，取平均值作为最终结果。
3.2 对于不同温度下的透射率，应绘制透射率-温度曲线。

4. 试验注意事项
4.1 试样应在低温下保持稳定，避免温度波动。
4.2 光源和光电探测器应校准，确保其精度和准确性。
4.3 试样应清洁干净，避免灰尘和污染对试验结果的影响。

相关标准
GB/T 16865-1997 低温下晶体热导率的试验方法
GB/T 16866-1997 低温下晶体热膨胀系数的试验方法
GB/T 16867-1997 低温下晶体硬度的试验方法
GB/T 16868-1997 低温下晶体断裂韧性的试验方法
GB/T 16869-1997 低温下晶体抗拉强度的试验方法