GB/T 12162.4-2010
用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第4部分:低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
发布时间:2010-11-10 实施时间:2011-05-01


低能X射线参考辐射场是指能量范围在5keV至50keV之间的X射线参考辐射场。场所剂量仪是指用于测量场所剂量率的剂量仪,个人剂量仪是指用于测量个人剂量的剂量仪。本标准规定了低能X射线参考辐射场的要求和校准方法,以及场所剂量仪和个人剂量仪的校准方法。

低能X射线参考辐射场的要求包括:辐射源、辐射场几何形状、辐射场均匀性、辐射场稳定性、辐射场能量分布等。辐射源应为铜或铝靶,辐射场几何形状应为圆形或方形,辐射场均匀性应符合规定的要求,辐射场稳定性应符合规定的要求,辐射场能量分布应符合规定的要求。

场所剂量仪和个人剂量仪的校准方法包括:校准前的准备工作、校准过程中的测量和计算、校准结果的评定等。校准前的准备工作包括:场所剂量仪和个人剂量仪的检查和准备、低能X射线参考辐射场的准备等。校准过程中的测量和计算包括:场所剂量仪和个人剂量仪的测量、低能X射线参考辐射场的测量等。校准结果的评定包括:场所剂量仪和个人剂量仪的校准结果的评定、低能X射线参考辐射场的校准结果的评定等。

本标准的实施可以保证场所剂量仪和个人剂量仪的准确性和可靠性,为保护人员健康和安全提供了可靠的技术支持。

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