半导体管特性图示仪是一种用于测试半导体器件电学特性的测试仪器。本标准适用于半导体管特性图示仪的设计、制造、检验和使用。

本标准规定了半导体管特性图示仪的术语和定义，包括了测试仪器的基本结构、主要技术指标和性能要求。其中，主要技术指标包括了测试范围、测试精度、测试速度、测试方式等内容。此外，本标准还规定了半导体管特性图示仪的试验方法，包括了测试仪器的检测方法、测试方法、校准方法等内容。

在检验规则方面，本标准规定了半导体管特性图示仪的检验方法和检验标准。其中，检验方法包括了外观检验、性能检验、安全检验等内容。检验标准则包括了检验项目、检验方法、检验结果判定等内容。

在标志、包装、运输和贮存方面，本标准规定了半导体管特性图示仪的标志、包装、运输和贮存要求。其中，标志包括了产品名称、型号、生产厂家、生产日期等内容。包装则包括了包装材料、包装方式、包装数量等内容。运输和贮存则包括了运输方式、贮存条件、贮存期限等内容。

相关标准
- GB/T 8170-2008 计量单位和其使用方法
- GB/T 2828.1-2012 采样检验程序 第1部分：按比例抽样检验程序
- GB/T 2918-1998 电子元器件试验方法通则
- GB/T 3785-2010 电子仪器用连接器
- GB/T 4857.1-2005 包装通用术语 第1部分：基本术语