光学薄膜是一种具有特殊光学性质的薄膜，广泛应用于光学仪器、光学器件、光学通信等领域。为了保证光学薄膜的质量和性能，需要对其进行规定的试验方法。GB/T 26332.4-2015《光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法》就是一份规定光学薄膜试验方法的标准。

本标准规定了光学薄膜的规定试验方法，包括膜层厚度、膜层折射率、膜层透过率、膜层反射率、膜层吸收率、膜层光学均匀性、膜层机械耐久性、膜层热稳定性、膜层湿热稳定性、膜层耐腐蚀性、膜层耐磨性、膜层光学性能的测量方法。其中，膜层厚度的测量方法包括机械测量法、光学测量法和电子束测量法；膜层折射率的测量方法包括自动梅-斯特法、自动梅-斯特法和自动梅-斯特法；膜层透过率和反射率的测量方法包括分光光度法、反射光度法和透过反射法；膜层吸收率的测量方法包括分光光度法和反射光度法；膜层光学均匀性的测量方法包括显微镜法和扫描法；膜层机械耐久性的测量方法包括划伤法和磨损法；膜层热稳定性的测量方法包括热循环法和热老化法；膜层湿热稳定性的测量方法包括湿热循环法和湿热老化法；膜层耐腐蚀性的测量方法包括酸碱腐蚀法和盐雾腐蚀法；膜层耐磨性的测量方法包括磨损法和划伤法；膜层光学性能的测量方法包括色散测量法、偏振特性测量法和相位特性测量法。

本标准适用于光学薄膜的试验和检验，可用于光学薄膜的生产、质量控制和检验。

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