纳米技术是当今世界上最热门的技术之一，其应用范围非常广泛，包括材料科学、生物医学、电子学等领域。贵金属纳米颗粒是纳米技术中的一种重要材料，具有很多优异的性能，如表面增强拉曼散射、光学性质、电学性质等。因此，对贵金属纳米颗粒的研究和应用具有重要的意义。

电子显微镜是研究纳米颗粒的重要工具之一，可以通过高分辨率的成像技术观察纳米颗粒的形貌和结构。高角环形暗场法是电子显微镜成像中的一种重要技术，可以通过控制电子束的入射角度和探测器的位置，实现对样品的高分辨率成像。

本标准规定了贵金属纳米颗粒电子显微镜成像的高角环形暗场法的技术要求、试验方法、仪器设备、试验结果的处理和报告。其中，技术要求包括样品制备、电子显微镜成像参数的选择、成像条件的控制等；试验方法包括样品的制备、电子显微镜成像的操作流程等；仪器设备包括电子显微镜、探测器等；试验结果的处理和报告包括成像结果的分析和解释等。

本标准适用于贵金属纳米颗粒的电子显微镜成像，可以为贵金属纳米颗粒的研究和应用提供技术支持和标准化的方法。

相关标准
- GB/T 34830-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒表面增强拉曼散射（SERS）光谱分析方法
- GB/T 34832-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒透射电子显微镜成像方法
- GB/T 34833-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒扫描电子显微镜成像方法
- GB/T 34834-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒原子力显微镜成像方法
- GB/T 34835-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒X射线衍射分析方法