氧化石墨烯是一种重要的二维材料，具有优异的电学、光学、热学等性质，在电子器件、传感器、催化剂等领域有广泛应用。氧化石墨烯的厚度是其性质和应用的重要参数，因此准确测量氧化石墨烯的厚度对于研究其性质和应用具有重要意义。

本标准适用于氧化石墨烯厚度测量的原子力显微镜法。该方法基于原子力显微镜的扫描探针在样品表面扫描的原理，通过测量探针在样品表面的高度变化，计算出氧化石墨烯的厚度。

本标准规定了氧化石墨烯厚度测量的样品制备要求，包括样品的选择、制备和处理等。同时，本标准还规定了仪器校准的要求，包括扫描探针的校准、扫描参数的设置等。在测量过程中，本标准规定了扫描探针在样品表面扫描的方法和参数，以及数据采集和处理的方法。最后，本标准还规定了结果报告的要求，包括测量结果的表示方法、精度和不确定度的评定等。

本标准的实施可以保证氧化石墨烯厚度测量的准确性和可重复性，为氧化石墨烯的研究和应用提供了可靠的技术支持。

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