纳米技术是当今世界上最热门的技术之一，其应用范围涵盖了医学、材料科学、环境科学等多个领域。在纳米技术中，纳米颗粒是最基本的构成单元之一，因此对纳米颗粒的粒径测量非常重要。在多相体系中，纳米颗粒的粒径测量更加困难，因此需要一种可靠的测量方法。本标准规定了使用透射电镜图像法测量多相体系中纳米颗粒粒径的方法。

透射电镜图像法是一种常用的纳米颗粒粒径测量方法，其原理是通过透射电镜观察纳米颗粒的图像，然后根据图像的特征来计算纳米颗粒的粒径。在多相体系中，纳米颗粒的图像可能会受到其他物质的干扰，因此需要对图像进行处理，以便准确地测量纳米颗粒的粒径。

本标准规定了透射电镜图像法测量多相体系中纳米颗粒粒径的步骤和要求。其中包括样品制备、透射电镜观察、图像处理和粒径计算等方面。在样品制备方面，需要注意样品的制备方法和样品的选择。在透射电镜观察方面，需要注意透射电镜的选择和操作方法。在图像处理方面，需要注意图像的处理方法和参数的选择。在粒径计算方面，需要注意粒径计算公式的选择和参数的确定。

本标准的实施可以提高纳米颗粒粒径测量的准确性和可靠性，为纳米技术的应用提供技术支持。

相关标准
- GB/T 19519-2017 纳米材料 术语和定义
- GB/T 31793-2015 纳米颗粒表面电荷测量方法
- GB/T 31794-2015 纳米颗粒表面化学成分测量方法
- GB/T 31795-2015 纳米颗粒表面形貌测量方法
- GB/T 31796-2015 纳米颗粒尺寸测量方法