染色体异常是指染色体结构或数量的异常，是导致人类遗传病和某些肿瘤的重要原因之一。传统的染色体分析方法包括核型分析、荧光原位杂交（FISH）和PCR等，但这些方法存在着一些局限性，如需要大量的细胞、时间和人力成本高等问题。随着基因芯片技术的发展，染色体异常检测基因芯片已成为一种快速、高通量、高灵敏度和高特异性的检测方法。

GB/T 35533-2017 染色体异常检测基因芯片通用技术要求主要包括以下内容：

1.术语和定义：对染色体异常检测基因芯片相关的术语和定义进行了规范，以便于不同单位和个人之间的交流和理解。

2.设计要求：对染色体异常检测基因芯片的设计要求进行了规范，包括芯片设计的原则、芯片上探针的选择和设计、探针的密度和分布等方面。

3.制备要求：对染色体异常检测基因芯片的制备要求进行了规范，包括芯片制备的材料和设备、芯片制备的流程和步骤、芯片制备的质量控制等方面。

4.检测要求：对染色体异常检测基因芯片的检测要求进行了规范，包括样品的处理和标记、芯片的杂交和洗涤、芯片的扫描和数据采集等方面。

5.数据分析要求：对染色体异常检测基因芯片的数据分析要求进行了规范，包括数据预处理、数据归一化、数据分析和结果解释等方面。

6.质量控制要求：对染色体异常检测基因芯片的质量控制要求进行了规范，包括芯片制备的质量控制、样品处理的质量控制、数据采集的质量控制等方面。

7.报告要求：对染色体异常检测基因芯片的报告要求进行了规范，包括报告的内容、格式、标准和要求等方面。

相关标准
GB/T 35534-2017 基因芯片数据分析通用技术要求
GB/T 35535-2017 基因芯片质量控制通用技术要求
GB/T 35536-2017 基因芯片生物信息学分析通用技术要求
GB/T 35537-2017 基因芯片质量评价通用技术要求
GB/T 35538-2017 基因芯片标准样品通用技术要求