光电子器件是通信设备中不可或缺的组成部分，其可靠性和稳定性对通信设备的性能和使用寿命有着至关重要的影响。为了保证通信设备的可靠性和稳定性，GB/T 21194-2007规定了光电子器件的可靠性测试方法、质量控制要求、可靠性指标等内容。

该标准规定了光电子器件的可靠性测试方法，包括环境应力测试、可靠性寿命测试、可靠性保证测试等。其中，环境应力测试是指在一定的环境条件下对光电子器件进行测试，以模拟其在实际使用中所受到的环境应力；可靠性寿命测试是指对光电子器件进行长时间的测试，以评估其在实际使用中的寿命；可靠性保证测试是指对光电子器件进行一系列的测试，以保证其在实际使用中的可靠性。

此外，该标准还规定了光电子器件的质量控制要求，包括光电子器件的生产、检验、包装、运输等方面的要求。其中，生产要求包括生产过程的控制、生产设备的维护等；检验要求包括对光电子器件的外观、性能等方面进行检验；包装要求包括对光电子器件的包装材料、包装方式等方面进行要求；运输要求包括对光电子器件的运输方式、运输条件等方面进行要求。

最后，该标准还规定了光电子器件的可靠性指标，包括失效率、平均失效时间、失效率曲线等指标。这些指标可以用来评估光电子器件的可靠性和稳定性，为通信设备的设计和使用提供参考依据。

相关标准
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分：试验Db：低温试验方法
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分：试验Ea和Eb：温度循环试验方法