计算机辐射成像系统是一种非破坏性检测技术，广泛应用于工业、航空航天、汽车、建筑和医疗等领域。该技术通过将被检测物体暴露于辐射源下，然后使用计算机将辐射信号转换为数字图像，从而实现对被检测物体的检测和分析。计算机辐射成像系统具有高效、高精度、高灵敏度等优点，因此在非破坏性检测领域得到了广泛应用。

然而，计算机辐射成像系统的性能和长期稳定性对于应用的准确性和可靠性至关重要。因此，ASTM E2445/E2445M - 20标准提供了一种评估计算机辐射成像系统性能和长期稳定性的方法，以确保系统能够满足应用需求并保持稳定。

该标准包括以下内容：

1. 定义计算机辐射成像系统的性能指标，包括分辨率、噪声、对比度、线性度、动态范围等。

2. 提供评估计算机辐射成像系统性能的方法，包括使用标准测试物体进行测试、使用标准测试程序进行测试等。

3. 提供评估计算机辐射成像系统长期稳定性的方法，包括使用标准测试物体进行测试、使用标准测试程序进行测试等。

4. 提供计算机辐射成像系统性能和长期稳定性的报告要求。

ASTM E2445/E2445M - 20标准的实施可以帮助用户评估计算机辐射成像系统的性能和长期稳定性，从而确保系统能够满足应用需求并保持稳定。该标准的实施还可以帮助用户选择适合自己应用的计算机辐射成像系统，并提高应用的准确性和可靠性。

相关标准
- ASTM E94/E94M - 19：金属材料的无损检测标准实施
- ASTM E1025 - 20：计算机辅助X射线检测系统的性能评估标准实践
- ASTM E2597 - 16：计算机辐射成像系统的性能评估标准实践
- ASTM E2698 - 16：计算机辐射成像系统的性能评估标准实践
- ASTM E2737 - 10(2015)：计算机辐射成像系统的性能评估标准实践