小角X射线散射法是一种用于测量颗粒浓度的非常有效的方法。该方法利用X射线与样品中的颗粒相互作用，通过测量散射光的强度和角度来确定颗粒的浓度。小角X射线散射法可以用于测量各种类型的颗粒，包括聚合物、蛋白质、纳米颗粒等。

BS ISO 23484标准规定了使用小角X射线散射法测量颗粒浓度的方法和步骤。该标准要求在测量前对样品进行适当的处理，以确保样品中的颗粒分散均匀。在测量过程中，需要使用适当的仪器和设备，包括X射线源、散射仪、探测器等。测量结果需要进行数据处理和分析，以确定颗粒的浓度。

BS ISO 23484标准还规定了测量结果的计算和报告要求。测量结果应该包括颗粒浓度、误差范围、测量条件等信息。在报告中，需要说明测量方法和步骤，以及数据处理和分析方法。此外，还需要提供样品的相关信息，如样品名称、来源、处理方法等。

BS ISO 23484标准适用于测量颗粒浓度范围在0.1 mg/mL至100 mg/mL之间的样品。该标准可以用于各种领域，如材料科学、生物医学、环境科学等。使用该标准可以确保测量结果的准确性和可重复性，从而提高研究和应用的可靠性。

相关标准
- ISO 13321:1996 纳米颗粒尺寸分布的测量方法
- ISO 22412:2008 纳米颗粒的表面电荷密度的测量方法
- ISO 13099:2012 纳米颗粒的气溶胶测量方法
- ISO 9276-6:2008 颗粒物理学中颗粒尺寸分布的测量方法
- ISO 13318:2010 颗粒物理学中颗粒形状的测量方法