ASTM E3220 - 20
Standard Guide for Characterization of Graphene Flakes
发布时间:2020-04-01 实施时间:


石墨烯是一种由碳原子组成的单层二维晶体材料,具有优异的电学、热学和力学性能。石墨烯的发现引起了材料科学领域的广泛关注,并被认为是未来材料科学的重要研究方向之一。然而,石墨烯的制备和表征仍然是一个具有挑战性的问题。由于石墨烯的单层结构和高表面积,其表征方法需要高分辨率和高灵敏度的仪器和技术。此外,石墨烯的制备过程也会影响其物理、化学和结构特性,因此需要对石墨烯进行质量控制。

ASTM E3220 - 20标准指南提供了一种标准化的方法,以便对石墨烯片进行表征和质量控制。该标准指南适用于石墨烯片的制备、表征和应用。该标准指南包括石墨烯片的物理、化学和结构特性的表征方法,以及石墨烯片的质量控制方法。

该标准指南包括以下内容:

1. 石墨烯片的制备方法:该部分介绍了常见的石墨烯制备方法,包括机械剥离法、化学气相沉积法、化学还原法等。

2. 石墨烯片的物理特性表征方法:该部分介绍了石墨烯片的厚度、表面形貌、电学性能、热学性能等物理特性的表征方法,包括扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、透射电子显微镜(TEM)、拉曼光谱等。

3. 石墨烯片的化学特性表征方法:该部分介绍了石墨烯片的化学成分、化学反应性等化学特性的表征方法,包括X射线光电子能谱(XPS)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)等。

4. 石墨烯片的结构特性表征方法:该部分介绍了石墨烯片的晶体结构、晶格常数等结构特性的表征方法,包括X射线衍射(XRD)、选区电子衍射(SAED)等。

5. 石墨烯片的质量控制方法:该部分介绍了石墨烯片的质量控制方法,包括石墨烯片的纯度、厚度、尺寸、形貌等方面的控制方法。

相关标准
- ASTM D5469-18 Standard Test Method for Determining the Transmissivity of Single Crystal Silicon Wafer
- ASTM E112-13 Standard Test Methods for Determining Average Grain Size
- ASTM E384-17 Standard Test Method for Microindentation Hardness of Materials
- ASTM E1961-98(2018) Standard Practice for Mechanized Ultrasonic Testing of Girth Welds Using Zonal Discrimination with Focused Search Units
- ASTM E8/E8M-16a Standard Test Methods for Tension Testing of Metallic Materials