BS ISO 13067:2020标准规定了使用电子背散射衍射（EBSD）技术测量材料平均晶粒尺寸的方法。该标准适用于所有晶体材料，包括金属、陶瓷、半导体和聚合物等。该标准主要用于材料科学和工程领域，以及材料制备和加工过程中的质量控制。

该标准要求使用EBSD技术对材料进行表面扫描，以获取晶粒的信息。然后，通过计算晶粒的平均尺寸来确定材料的晶粒尺寸。该标准还规定了测量过程中需要考虑的因素，例如扫描参数、样品制备和数据处理等。

该标准的实施可以帮助材料科学家和工程师更好地了解材料的微观结构和性能，从而优化材料的制备和加工过程。此外，该标准还可以用于材料的质量控制和检验，确保材料的晶粒尺寸符合要求。

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