X射线光电子能谱（XPS）是一种表面分析技术，可用于确定材料表面的化学成分和电子状态。在进行XPS实验时，需要进行一系列校准，以确保实验结果的准确性和可重复性。ASTM E2735 - 14(2020)提供了一种方法，以确定在XPS实验中需要进行哪些校准，以及如何进行这些校准。

该标准首先介绍了XPS实验中的常见校准，包括能量校准、角度校准、光源强度校准和信号响应校准。然后，该标准提供了一种方法，以确定在特定XPS实验中需要进行哪些校准。该方法涉及以下步骤：

1. 确定实验目的和样品类型。
2. 确定所需的分辨率和灵敏度。
3. 确定所需的能量范围和分辨率。
4. 确定所需的角度范围和分辨率。
5. 确定所需的光源强度和信号响应范围。
6. 根据上述信息确定需要进行的校准。

该标准还提供了有关如何进行XPS校准的详细信息，包括校准步骤、校准样品的选择和制备、校准参数的确定以及校准结果的评估。

ASTM E2735 - 14(2020)的应用可以确保XPS实验结果的准确性和可重复性，从而提高XPS技术在材料科学、表面化学、纳米技术等领域的应用价值。

相关标准
- ASTM E573-01(2018) Standard Practices for Internal Reflection Spectroscopy
- ASTM E1848-96(2018) Standard Guide for Selecting and Using Dosimetry Systems for Radiation Processing
- ASTM E1316-20 Standard Terminology for Nondestructive Examinations
- ASTM E1655-05(2019) Standard Practices for Infrared Multivariate Quantitative Analysis
- ASTM E1652-20 Standard Test Method for Capillary Electrophoresis of Hemoglobin