BS ISO 19318:2021 - TC 标准是一项关于表面化学分析的标准，主要针对X射线光电子能谱（XPS）技术。XPS是一种常用的表面分析技术，可以用于分析材料表面的化学成分、化学键和电子状态等信息。然而，在进行XPS分析时，由于样品表面的电荷效应，会对分析结果产生影响，因此需要进行电荷控制和电荷校正。

BS ISO 19318:2021 - TC 标准规定了在进行XPS分析时，需要报告电荷控制和电荷校正方法。具体来说，标准要求报告以下内容：

1. 电荷控制方法：包括样品的处理方法、电子枪的设置和工作条件等。

2. 电荷校正方法：包括使用哪种方法进行电荷校正、校正参数的选择和确定等。

3. 校正效果的评估：包括校正前后的XPS谱图对比、校正效果的定量评估等。

通过报告电荷控制和电荷校正方法，可以使XPS分析结果更加准确可靠，提高实验数据的可重复性和可比性。

BS ISO 19318:2021 - TC 标准适用于使用XPS进行表面分析的实验室和研究机构。该标准的实施可以帮助实验室和研究机构建立规范的XPS分析流程，提高实验数据的质量和可信度。

相关标准
- BS EN ISO 14976:2019 表面化学分析. X射线光电子能谱. 数据处理
- BS EN ISO 18115-1:2016 表面化学分析. X射线光电子能谱. 术语和定义
- BS EN ISO 18115-2:2016 表面化学分析. X射线光电子能谱. 仪器性能
- BS EN ISO 18115-3:2016 表面化学分析. X射线光电子能谱. 样品制备
- BS EN ISO 18115-4:2016 表面化学分析. X射线光电子能谱. 数据采集和处理