表面化学分析是一种研究材料表面化学性质的方法，可以用于研究材料的结构、组成、形貌和性质等方面。扫描探针显微镜是一种高分辨率的显微镜，可以用于观察材料表面的形貌和结构，并且可以进行局部化学分析。在表面化学分析和扫描探针显微镜领域，术语的使用非常重要，因为不同的术语可能会有不同的含义，导致交流和理解上的困难。

BS ISO 18115-2:2021 - TC标准提供了一个统一的术语表，包含了表面化学分析和扫描探针显微镜中使用的术语的定义、缩写和符号，以及相关的注释和解释。该标准的目的是为了促进在表面化学分析和扫描探针显微镜领域的交流和理解，使得不同领域的研究人员可以使用相同的术语进行交流和合作。

BS ISO 18115-2:2021 - TC标准包含了大量的术语和定义，例如“扫描探针显微镜”、“原子力显微镜”、“扫描电子显微镜”、“扫描隧道显微镜”等。此外，该标准还包含了一些缩写和符号的定义，例如“AFM”代表原子力显微镜，“SEM”代表扫描电子显微镜等。

BS ISO 18115-2:2021 - TC标准的使用可以帮助研究人员在表面化学分析和扫描探针显微镜领域进行交流和合作，避免因为术语的不同而导致的误解和困难。同时，该标准也可以作为教学和培训的参考资料，帮助学生和新手更好地理解和掌握相关的术语和概念。

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