纳米技术是一种快速发展的技术，已经在许多领域得到了广泛应用。纳米颗粒的粒径和形状分布是纳米技术中非常重要的参数，因为它们直接影响纳米颗粒的性质和应用。透射电子显微镜是一种常用的测量纳米颗粒粒径和形状分布的方法，因为它可以提供高分辨率的图像和精确的测量结果。

BS EN ISO 21363:2022 - TC标准提供了使用透射电子显微镜测量纳米颗粒粒径和形状分布的详细指南。该标准包括样品制备、显微镜操作、图像获取和数据分析等方面的内容。在样品制备方面，该标准建议使用适当的方法制备样品，以确保样品的均匀性和可重复性。在显微镜操作方面，该标准提供了显微镜的操作指南，以确保获得高质量的图像。在图像获取方面，该标准提供了图像获取的指南，以确保获得高质量的图像。在数据分析方面，该标准提供了数据分析的指南，以确保获得准确的粒径和形状分布数据。

BS EN ISO 21363:2022 - TC标准的实施可以确保测量结果的准确性和可重复性。该标准适用于纳米颗粒的测量，包括单一颗粒和聚集体。该标准适用于各种类型的纳米颗粒，包括金属、氧化物、碳纳米管等。

相关标准
- ISO/TS 80004-1:2015 Nanotechnologies -- Vocabulary -- Part 1: Core terms
- ISO/TS 80004-2:2015 Nanotechnologies -- Vocabulary -- Part 2: Nano-objects
- ISO/TS 80004-3:2017 Nanotechnologies -- Vocabulary -- Part 3: Nanostructured materials
- ISO/TS 80004-4:2011 Nanotechnologies -- Vocabulary -- Part 4: Nanostructured coatings
- ISO/TS 80004-5:2011 Nanotechnologies -- Vocabulary -- Part 5: Nano-bio interface