波长色散X射线荧光光谱法是一种常用的元素分析技术，它可以用于分析各种类型的样品，包括固体、液体和气体。该技术基于X射线与样品中原子的相互作用，通过测量样品中发射的荧光X射线的能量和强度来确定样品中元素的种类和含量。WDXRF技术具有高分辨率、高准确度和高重复性等优点，因此在材料科学、地球科学、环境科学、生命科学等领域得到了广泛应用。

ASTM E1621 - 22标准指南主要包括以下内容：

1. 基本原理：介绍WDXRF技术的基本原理和X射线与物质的相互作用机制。

2. 仪器和设备：介绍WDXRF仪器和设备的组成、性能和操作方法，包括X射线源、样品支架、荧光探测器、能量色散器等。

3. 样品制备：介绍样品制备的方法和注意事项，包括样品的选择、制备、研磨、压片等。

4. 分析程序：介绍WDXRF分析程序的设计和实施，包括样品的放置、扫描范围、扫描速度、荧光信号的采集和处理等。

5. 数据处理：介绍WDXRF数据处理的方法和注意事项，包括荧光峰的识别、峰面积的计算、背景校正、元素定量等。

6. 质量控制：介绍WDXRF质量控制的方法和注意事项，包括标准样品的选择、校准曲线的建立、精密度和准确度的评估等。

7. 实用建议：提供一些实用的建议和注意事项，以帮助用户在进行WDXRF元素分析时获得准确、可靠和重复性的结果。

ASTM E1621 - 22标准指南适用于所有使用WDXRF技术进行元素分析的实验室和机构，包括工业、学术和政府实验室。该标准指南可以作为WDXRF元素分析的参考和指导，帮助用户提高分析质量和效率，减少误差和偏差。

相关标准
- ASTM E1085 - 19：波长色散X射线荧光光谱法中元素定量的标准实施规程
- ASTM E1622 - 21：荧光X射线光谱法中元素分析的标准指南
- ASTM E2864 - 20：荧光X射线光谱法中元素分析的标准实施规程
- ASTM E3050 - 16：荧光X射线光谱法中元素分析的标准术语
- ASTM E354 - 16：荧光X射线光谱法中元素分析的标准实施规程